華測儀器SIR-450寬溫域絕緣電阻測試系統

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SIR-450寬溫域絕緣電阻測試系統由華測儀器生產，高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的手段。

產品參數

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數據傳輸：RS-232

支持的硬件

1.多核高性能處理器

2.集成打印接口，可擴充8個USB接口

3.支持16g內存，250g固態硬盤

多種加溫方式

勻速度加熱試驗

階梯式加熱試驗

熱循環試驗（僅供反射爐）

降溫試驗

加速度升溫（僅供反射爐）